品牌介绍：
LUMETRICS总部位于纽约，自2003年以来，一直在为越来越多的客户开发和制造高精度的厚度测量和计量系统，包括医疗，制药，食品包装等行业。我们的原始产品线OptiGauge是通过获得Eastman Kodak的薄膜测量技术许可而推出的。从那以后，我们扩展了OptiGauge系列并开发了其他产品线，以满足更加多样化的行业需求。
产品范围：
美国LUMETRICS波前传感器、精密像差仪
主要型号：
OPTIGAUGE 2000、OPTIGAUGE 600、OPTIGAUGE MLS、OPTIGAUGE EMS、LUMETRISCAN 360、CLAS-NX、CLAS-FX、CLAS-2D
相关产品介绍：
OPTIGAUGE 2000仪器基于时域低相干干涉测量法。这项技术可以对任何对光测量透明或部分透明的材料进行绝对厚度测量。使用中心波长约为2微米的红外光。设计用于测量特殊和稀有材料。常规的玻璃和塑料材料也可以测量。我们的技术可实现快速的实时测量，可用于在线过程控制以及离线质量控制。
主要特点：
-测量范围：100ΜM-16MM
-精度±1.0ΜM
-单层和多层测量
-连续内部校准
-NIST可追溯性
-台式或机架安装
CLAS-2D波前传感器将干涉仪，光束轮廓仪和光束质量仪的功能整合在一台仪器中，以提供准确的波前测量和激光轮廓分析。
该系统软件是业内灵活软件，可以分析光学像差，包括像散，球差，聚焦误差/准直，倾斜等。此外，CLAS-2D还测量M2光束质量，MTF，近场和远场光束发散度以及其他光束参数。
主要特点：
-激光束诊断
-光学测试
-对准
-角度测量
-准直
-表面测量
CRYSTALWAVE人工晶状体精密像差仪是一种高度灵敏的光学仪器，专门设计用于使用10,000个小透镜的栅格来测量人工晶状体。它使您可以通过使用或不使用可选模型眼的WAVEFRONT测量来计算MTF。CRYSTALWAVE 765还包括可用于视觉检查的摄像机。与我们的CLAS-2D服务器软件兼容，您还可以使用LABVIEW，VISUAL BASIC或其他语言编写CRYSTALWAVE 765的应用程序，以直接控制生产线环境中的仪器。
主要特点：
-测量范围包括球面度数，圆柱度，轴，彗差，三叶形和其他高阶像差
-通过软件口罩测量多焦点人工晶状体
-使用绿色光源进行的测量符合ISO 11979
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